Однокристальная силиконовая Вафля SEM односторонняя полировка экспериментальные



Сохраните в закладки:

Цена:1 701,18RUB
*Стоимость могла изменится

Количество:


Новое поступление

Advanced Materials Development Expert Store

Advanced Materials Development Expert Store

Магазина Advanced Materials Development Expert Store работает с 13.05.2018. его рейтинг составлет 88.89 баллов из 100. В избранное добавили 496 покупателя. Средний рейтинг торваров продавца 4.3 в продаже представленно 1394 наименований товаров, успешно доставлено 61 заказов. 9 покупателей оставили отзывы о продавце.

Характеристики

Однокристальная силиконовая Вафля SEM односторонняя полировка экспериментальные

История изменения цены

*Текущая стоимость 1 701,18 уже могла изменится. Что бы узнать актуальную цену и проверить наличие товара, нажмите "Добавить в корзину"

Месяц Минимальная цена Макс. стоимость Цена
Jun-23-2026 2160.64 руб. 2203.77 руб. 2181.5 руб.
May-23-2026 1752.55 руб. 1787.60 руб. 1769.5 руб.
Apr-23-2026 2126.18 руб. 2169.74 руб. 2147.5 руб.
Mar-23-2026 2109.64 руб. 2151.38 руб. 2130 руб.
Feb-23-2026 1684.51 руб. 1718.66 руб. 1701 руб.
Jan-23-2026 2075.11 руб. 2117.85 руб. 2096 руб.
Dec-23-2025 2058.43 руб. 2099.64 руб. 2078.5 руб.
Nov-23-2025 2041.43 руб. 2082.35 руб. 2061.5 руб.

Описание товара

Однокристальная силиконовая Вафля SEM односторонняя полировка экспериментальныеОднокристальная силиконовая Вафля SEM односторонняя полировка экспериментальныеОднокристальная силиконовая Вафля SEM односторонняя полировка экспериментальныеОднокристальная силиконовая Вафля SEM односторонняя полировка экспериментальныеОднокристальная силиконовая Вафля SEM односторонняя полировка экспериментальные


Монокристаллическая Кремниевая пластина (односторонняя полировка)   Характеристики: высокая чистота кремния si одинарная кристаллическая подложка, тип N/P опционально, удельное сопротивление 0,0001-100 Ом, опционально   Режим роста: прямая тяга   Ориентация кристалла: [111]/[100]   Плоскость: <1 микрон (измеряемая общая страничка)   Использование: 1.PVD/ CVD покрытие в качестве подложки   2. Используется как XRD (рентгеновский Дифракционный анализ), SEM (сканирующий электронный микроскоп), FTIR инфракрасный, флуоресцентный спектральный анализ тест   Подложка, AFM (атомнаяМикроскоп силы)   3. Перевозчик образцов синхротронного излучения   4. Молекулярный луч эпитаксиального роста подложки   5. Процесс литографии полупроводников и т. Д.   Примечание: другие размеры могут быть настроены и могут быть вызваны.   TB2JFN9kv2H8KJjy0FcXXaDlFXa_!!2182942071 TB2RAS2krYI8KJjy0FaXXbAiVXa_!!2182942071TB2trksi7fb_uJjSsrbXXb6bVXa_!!2182942071TB2yCJ3kDnI8KJjSszgXXc8ApXa_!!2182942071TB23FBMkCYH8KJjSspdXXcRgVXa_!!2182942071


Смотрите так же другие товары: